了解比表麵積及孔徑分析儀(yi) 的設備信息

　　比表麵積及孔徑分析儀(yi) 是一款應用於(yu) 介孔、大孔納米材料的單/多分析站全自動物理吸附分析儀(yi) ;在諸多的樣品檢測當中占據著非常重要的作用，受到了市場的廣泛關(guan) 注。

　　對於(yu) 比表麵積及孔徑分析儀(yi) 來說，現代科技化的發展，給設計的應用性能帶來了更好的效果，整體(ti) 采用的一體(ti) 化設計，使得比表麵積及孔徑分析儀(yi) 的應用更加穩妥。

　　比表麵積及孔徑分析儀(yi) 的一體(ti) 化設計，即脫氣模塊集成於(yu) 儀(yi) 器主機上，為(wei) 實驗室減少大量空間;同時其脫氣模塊和分析模塊又相互獨立，具有獨立的氣路係統、檢測係統和真空係統，可以同時運行，互不影響，提高質量控製分析的檢測速度;每個(ge) 分析口配備獨立壓力傳(chuan) 感器，獨立的飽和蒸氣壓探測係統，在分析過程中實時監測飽和壓力，確保數據的準確性。

　　比表麵積及孔徑分析儀(yi) 當中的靜態法原理，是設備應用的關(guan) 鍵要素。靜態法根據確定吸附吸附量方法的不同分為(wei) 重量法和容量法。重量法是根據吸附前後樣品重量變化來確定被測樣品對吸附質分子(N2)的吸附量;容量法是將待測粉體(ti) 樣品裝在一定體(ti) 積的一段封閉的試管狀樣品管內(nei) ，向樣品管內(nei) 注入一定壓力的吸附質氣體(ti) 根據吸附前後的壓力或重量變化來確定被測樣品對吸附質分子(N2)的吸附量。

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